| 主权项 |
1.一种平面显示器的测试装置,该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线之多数个驱动电路,该驱动电路系配置于该平面显示器之一第一侧,该测试装置包括:多数个开关元件,电性耦接至该些电极配线,该开关元件系配置于该平面显示器之一第二侧;以及至少一短路杆,电性耦接至该些开关元件;其中,该平面显示器之该第一侧系与该第二侧为相对侧。2.如申请专利范围第1项所述之平面显示器的测试装置,其中每一该些开关元件包括一二极体与至少一薄膜电晶体其中之一。3.如申请专利范围第1项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括资料配线。4.如申请专利范围第1项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括扫描配线。5.一种平面显示器的测试装置,该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线之多数个驱动电路,该测试装置包括:多数个开关元件,每一该些开关元件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极,该些第一源/汲极系电性耦接至该些电极配线;一开关配线组,电性耦接至该些开关元件之该些闸极;以及多数个短路杆,每一该些短路杆系电性耦接至部份该些开关元件之该些第二源/汲极。6.如申请专利范围第5项所述之平面显示器的测试装置,其中当该开关配线组包括多数个开关配线时,每一该些开关配线系电性耦接至部份该些开关元件之该些闸极。7.如申请专利范围第5项所述之平面显示器的测试装置,其中每一该些开关元件包括至少一薄膜电晶体。8.如申请专利范围第5项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括资料配线。9.如申请专利范围第5项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括扫描配线。10.一种平面显示器的测试装置,该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线之多数个驱动电路,该测试装置包括:多数个开关元件,每一该些开关元件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极,该些第一源/汲极系电性耦接至该些电极配线;多数个开关配线,电性耦接至该些开关元件之该些闸极,且每一该些开关配线系电性耦接至部份该些开关元件之该些闸极;以及一短路杆,电性耦接至该些开关元件之该些第二源/汲极。11.如申请专利范围第10项所述之平面显示器的测试装置,其中每一该些开关元件包括至少一薄膜电晶体。12.如申请专利范围第10项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括资料配线。13.如申请专利范围第10项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括扫描配线。14.一种平面显示器的测试装置,该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线之多数个驱动电路,该测试装置包括:多数个开关元件,电性耦接至该些电极配线;一短路杆组,电性耦接至该些开关元件。15.如申请专利范围第14项所述之平面显示器的测试装置,其中当该短路杆组包括多数个短路杆时,每一该些短路杆系电性耦接至部份该些开关元件。16.如申请专利范围第14项所述之平面显示器的测试装置,其中每一该些开关元件包括一二极体。17.如申请专利范围第14项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括资料配线。18.如申请专利范围第14项所述之平面显示器的测试装置,其中该些电极配线包括扫描配线。图式简单说明:第1图绘示习知一种薄膜电晶体液晶显示器的测试装置电路图。第2图绘示习知另一种薄膜电晶体液晶显示器的测试装置电路图。第3A图与第3B图绘示依照本发明第一较佳实施例之平面显示器的测试装置电路图。第4图绘示一较佳实施例的开关元件由薄膜电晶体构成之电路示意图。第5A~5C图绘示依照本发明第二较佳实施例之平面显示器的测试装置电路图。第6图绘示依照本发明第三较佳实施例之平面显示器的测试装置电路图。 |
