| 主权项 |
1.一种待测元件测试方法,用以对一待测元件进行 测试,该方法包括: 输出对应于该待测元件之一预期测试图样,该预期 测试图样具有一测试输入讯号及一预期输出讯号; 压缩该预期测试图样,并输出一预期压缩图样,该 预期压缩图样具有对应于该预期输出讯号之一预 期压缩输出讯号; 储存该预期压缩图样; 撷取该预期压缩图样并解压缩,以输出该测试输入 讯号并对该待测元件进行测试; 接收该待测元件所输出之一实际输出讯号并压缩, 以输出一实际压缩输出讯号; 储存该实际压缩输出讯号;以及 判断该实际压缩输出讯号与该预期压缩输出讯号 是否相同。 2.如申请专利范围第1项所述之待测元件测试方法, 其中该输出之预期测试图样系扫描测试图样。 3.如申请专利范围第1项所述之待测元件测试方法, 其中该方法系用于一测试系统上,该测试系统包括 : 一自动测试图样产生器(automatic test pattern generator, ATPG),用以产生该预期测试图样并输出。 4.如申请专利范围第3项所述之待测元件测试方法, 其中该测试系统更包括: 一压缩装置,用以接收该预期测试图样并压缩,以 输出该预期压缩图样。 5.如申请专利范围第4项所述之待测元件测试方法, 其中该测试系统更包括: 一自动测试机(automatic test equipment,ATE),具有一记忆 体,用以储存该预期压缩图样及该实际压缩输出讯 号,并比对该实际压缩输出讯号与该预期压缩输出 讯号是否相同。 6.如申请专利范围第5项所述之待测元件测试方法, 其中该测试系统更包括: 一测试板(loadboard),用以置放该待测元件,该测试板 具有一压缩/解压缩单元,该压缩/解压缩单元撷取 该预期压缩图样并解压缩,以输出该测试输入讯号 对该待测元件进行测试,且该压缩/解压缩单元更 用以压缩对该待测元件测试后输出之该实际输出 讯号为该实际压缩输出讯号,并储存至该记忆体中 。 7.如申请专利范围第1项所述之待测元件测试方法, 其中: 当该实际压缩输出讯号与该预期压缩输出讯号相 同时,判定该待测元件通过测试;以及 当该实际压缩输出讯号与该预期压缩输出讯号不 同时,判定该待测元件未通过测试。 8.一种待测元件测试系统,用以对一待测元件进行 测试,该系统包括: 一自动测试图样产生器,用以产生对应于该待测元 件之一预期测试图样并输出,该预期测试图样具有 一测试输入讯号及一预期输出讯号; 一压缩装置,用以接收该预期测试图样并压缩,以 输出一预期压缩图样,该预期压缩图样具有对应于 该预期输出讯号之一预期压缩输出讯号; 一自动测试机,用以储存该预期压缩图样及一实际 压缩输出讯号,并比对该实际压缩输出讯号与该预 期压缩输出讯号;以及 一压缩/解压缩单元,用以撷取该自动测试机之该 预期压缩图样并解压缩,以该测试输入讯号对该待 测元件进行测试并输出一实际输出讯号,该压缩/ 解压缩单元更用以压缩该实际输出讯号为该实际 压缩输出讯号。 9.如申请专利范围第8项所述之待测元件测试系统, 其中该自动测试机包括: 一记忆体,用以储存该预期压缩图样及该实际压缩 输出讯号。 10.如申请专利范围第8项所述之待测元件测试系统 ,更包括: 一测试板,用以置放该待测元件,该测试板具有该 压缩/解压缩单元。 11.如申请专利范围第8项所述之待测元件测试系统 ,其中该自动测试图样产生器产生之预期测试图样 系扫描测试图样。 图式简单说明: 第1图绘示乃传统之待测元件测试系统的方块图。 第2图绘示乃第1图之待测元件测试系统所提供之 测试方法的流程图。 第3图绘示乃依照本发明之较佳实施例之待测元件 测试系统的方块图。 第4图绘示乃第3图之待测元件测试系统所提供之 测试方法的流程图。 |
