| 发明名称 |
BATTERY FOR TESTING INTERFACIAL RESISTANCE AND TESTING METHOD OF RESISTANCE USING THE SAME |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100477719(B1) |
申请公布日期 |
2005.03.10 |
| 申请号 |
KR19970037254 |
申请日期 |
1997.08.04 |
| 申请人 |
SAMSUNG SDI CO., LTD. |
发明人 |
CHO, JAE PIL;KIM, GEUN BAE |
| 分类号 |
H01M2/34;(IPC1-7):H01M2/34 |
主分类号 |
H01M2/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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