Anordnung in modularer Bauweise und Verfahren zur paralellen Testung einer Mehrzahl von Bausteinen einer Materialbibliothek,申请号DE20001036633-传众专利搜索

发明名称	Anordnung in modularer Bauweise und Verfahren zur paralellen Testung einer Mehrzahl von Bausteinen einer Materialbibliothek
摘要
申请公布号	DE10036633(B4)	申请公布日期	2005.03.10
申请号	DE20001036633	申请日期	2000.07.27
申请人	HTE AG,THE HIGH THROUGHPUT EXPERIMENTATION CO.	发明人	HAAS, ALFRED;SCHUNK, STEPHAN ANDREAS;DEMUTH, DIRK;STREHLAU, WOLFGANG;BRENNER, ARMIN;STICHERT, WOLFRAM
分类号	B01J19/24;B01J19/00;B01L7/00;C08F2/00;(IPC1-7):B01J19/00;G01N37/00;C07B61/00	主分类号	B01J19/24
代理机构		代理人
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