发明名称 |
光谱测定同位素气体的仪器 |
摘要 |
本发明公开了一种光谱学测定同位素气体的仪器,它适合于通过将气体试样导入样品池,然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度,并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度,其特征是气体注射装置,其吸入气体试样,然后以恒定速度用机械方式推动气体试样将气体试样注入样品池。 |
申请公布号 |
CN1590984A |
申请公布日期 |
2005.03.09 |
申请号 |
CN200410058879.1 |
申请日期 |
1996.10.02 |
申请人 |
大塚制药株式会社 |
发明人 |
久保康弘;森泽且广;座主靖;池上英司;筒井和典;浜尾保;森正昭;丸山孝 |
分类号 |
G01N21/31;G01N21/59;G01N21/01;G01N21/25;A61B5/08;A61B10/00;A61B5/097 |
主分类号 |
G01N21/31 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
唐晓峰 |
主权项 |
1、一种光谱学测定同位素气体的仪器,它适合于通过将气体试样导入样品池,然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度,并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度,其特征是包括将光投入所述样品池的光源、测定通过了样品池的光的光接受器,接收导入气体试样的样品池位于所述光源和所述光接受器之间的光路上,用在测定波长下无吸收的参比气体填充的参比池处于无样品池的光路部分。 |
地址 |
日本东京 |