发明名称 半导体测试系统
摘要 使用自含式ActiveX控件创建一种生产操作者界面,其中每个ActiveX控件提供到整个测试系统的一个特定部分的接口。这些控件自动地相互通信。该生产界面使用ActiveX“测试器控件”,其提供到软件控制系统的其它部分的应用编程接口。提供一个自含式ActiveX控件库,其包含可以被“拖放”到操作者窗口中的“操作者控件”,从而向操作者提供信息和控制测试系统的能力。此外,半导体测试系统需要适于与一个或多个不同的封装器件操作装置或晶片探测器协同工作,其中操作装置或晶片探测器用于放置半导体器件来由测试器进行测试。ActiveX操作者控件允许操作者从操作装置驱动程序库中选择操作装置驱动程序。
申请公布号 CN1192243C 申请公布日期 2005.03.09
申请号 CN98809199.2 申请日期 1998.08.03
申请人 泰拉丁公司 发明人 丹尼尔C·普罗斯考尔
分类号 G01R31/319;G06F11/00 主分类号 G01R31/319
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 李辉;谷慧敏
主权项 1.一种半导体测试系统,包括:软件控制系统,自含式控件对象库,操作者窗口,一个或多个所述自含式控件对象适于创建所述软件控制系统的生产界面,所述生产界面具有1)自含式测试器控件,用于提供到所述软件控制系统的应用编程接口,和2)自含式操作者控件,用于提供所述操作者窗口与所述自含式测试器控件之间的接口,所述控件库中的所述自含式操作者控件是“拖放”控件,适于被“拖放”到所述操作者窗口中。
地址 美国马萨诸塞州波士顿