| 发明名称 |
Scan test apparatus for continuity testing of bareprinted circuit boards. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK1028915(A1) |
申请公布日期 |
2005.03.04 |
| 申请号 |
HK20000108277 |
申请日期 |
2000.12.21 |
| 申请人 |
DELAWARE CAPITAL FORMATION, INC. |
发明人 |
SWART, MARK, A. |
| 分类号 |
G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R |
主分类号 |
G01R31/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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