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<P>L'invention concerne un dispositif et un procédé de mesure spectroscopique du spectre d'un faisceau lumineux. Selon le procédé, on détecte les flux lumineux dispersés dudit faisceau sur un dispositif d'imagerie comprenant une matrice de photodétecteurs (23) à colonnes (11) actives. Selon l'invention, ledit dispositif d'imagerie (10) est orienté de sorte qu'une longueur d'onde est affectée à une ligne (27) de photodétecteurs (12). On détermine pour chaque flux lumineux (i= 1, 2, ..., n) le temps d'exposition τi nécessaire pour mesurer une intensité maximale Imax et la sous-matrice Mi (13, 24-26) de photodétecteurs (12) associée audit flux lumineux. On affecte à la sous-matrice Mi (13, 24-26) de photodétecteurs un temps d'exposition τ'i tel que τ'i soit le plus grand diviseur entier du temps d'intégration total T inférieur à τi. Durant le temps d'intégration T dudit spectre, on mesure et on réinitialise, à chaque temps τ'i avec i= (1, 2, ..., n), la sous-matrice Mi correspondante indépendamment des autres sous-matrices Mj (13, 24-26) avec j≠i. On mesure le spectre du faisceau au temps T.Application du procédé de mesure spectroscopique à la mesure de spectres de raies, en particulier l'émission atomique (ICP, GDS, SPARK), au Raman et au proche infra-rouge.</P>
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