| 发明名称 |
Integrierte Halbleiterschaltung zur Messung und digitalen Vorspannung der Schwellenspannung von Transistoren und zugehöriges Verfahren |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69728117(T2) |
申请公布日期 |
2005.03.03 |
| 申请号 |
DE19976028117T |
申请日期 |
1997.11.27 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS, INC. |
发明人 |
SUICHEONG SO, JASON;CHAN, TSIU CHIU |
| 分类号 |
H01L21/8234;G05F3/20;G05F3/24;G11C5/14;H01L27/088;H03K17/30;(IPC1-7):G05F3/24 |
主分类号 |
H01L21/8234 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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