发明名称 |
ELECTRIC DIAGNOSTIC CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING AND/OR DIAGNOSING AN INTEGRATED CIRCUIT |
摘要 |
<p>Die elektrische Diagnoseschaltung zum Testen eines integrierten Schaltkreises umfasst mehrere externe Eingänge (E), mehrere im wesentlichen gleichartige, hintereinander angeordnete Schalteinheiten sowie einen Schaltungsausgang (116). Die Schalteinheiten sind derart steuerbar ausgebildet, dass ein am internen Eingang der Schalteinheit anliegendes Eingangssignal in Abhängigkeit eines Steuersignals der Schalteinheit entweder unverändert an den internen Eingang der jeweils dahinter angeordneten Schalteinheit weiterleitbar oder mit dem jeweils am externen Eingang (E) anliegenden Testsignal verknüpfbar ist.</p> |
申请公布号 |
WO2005020075(A1) |
申请公布日期 |
2005.03.03 |
申请号 |
WO2004DE01799 |
申请日期 |
2004.08.11 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG;GOESSEL, MICHAEL;LEININGER, ANDREAS |
发明人 |
GOESSEL, MICHAEL;LEININGER, ANDREAS |
分类号 |
G01R31/3185;(IPC1-7):G06F11/277;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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