摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung des Übertragungsverhaltens eines Lichtleiters mit Stufenindexprofil, bei dem der Lichtleiter aus ineinander eintauchenden Leitstücken zusammengesetzt gedacht wird, so dass die Oberflächen dieser Leitstücke aus realen, außerhalb liegenden, und virtuellen, innerhalb eines anderen Leitstücks liegenden Oberflächen bestehen. Das Übertragungsverhalten wird mit geometrischer Strahlverfolgung bestimmt, indem die Schnittpunkte eines Strahls mit den Oberflächen der Leitstücke bestimmt wird, die aus diesem Grunde analytisch definiert sind, insbesondere durch Extrusion von Querschnitten entlang einer Axialtrajektorie. Ein iteratives Vorgehen erlaubt es, einen realen Materialübergang zu bestimmen.
|