| 发明名称 | X射线复折射率中位相因子δ的测定方法 | ||
| 摘要 | 一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法，其特征在于包括以下三个步骤：①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体，在位相物体后面，探测器要紧贴在位相物体后面，测量X射线束的光强分布I(x，y)，即位相分布φ(x，y)；②.将φ(x，y)代入公式(30)，即可求得复折射率n(x，y，z)：(见上式)；根据复折射率n(x，y，z)，求得δ：δ＝1－n(x，y，z)。本发明给出了用实验方法求取待测物的位相分布，再从位相分布求取位相因子δ，是一项具有重要意义的原创性的工作。 | ||
| 申请公布号 | CN1588018A | 申请公布日期 | 2005.03.02 |
| 申请号 | CN200410052912.X | 申请日期 | 2004.07.16 |
| 申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 陈建文;高鸿奕;向世清;朱化凤;谢红兰;李儒新;徐至展 |
| 分类号 | G01N23/083;G01N23/00;G06F19/00 | 主分类号 | G01N23/083 |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1、一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法，其特征在于包括以下三个步骤：①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体，在位相物体后面，探测器要紧贴在位相物体后面，测量X射线束的光强分布I(x，y)，即位相分布φ(x，y)；②.将φ(x，y)代入公式(30)，即可求得复折射率n(x，y，z)：<math> <mrow> <mi>φ</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mn>2</mn> <mi>π</mi> </mrow> <mi>λ</mi> </mfrac> <mo>∫</mo> <mo>[</mo> <mi>n</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>,</mo> <mi>z</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>]</mo> <mi>dz</mi> </mrow> </math> ③.根据复折射率n(x，y，z)，求得δ：δ＝1-n(x，y，z) | ||
| 地址 | 201800上海市800－211邮政信箱 | ||