发明名称 | 光学读取头取样介面系统 | ||
摘要 | 一种光学读取头取样介面系统,包含光学读取头、P型金氧半导体(PMOS)、提升电压电路以及取样保持电路。光学读取头输出一读片电压与一烧录电压之一。PMOS以栅极接收栅极电压,使PMOS为导通状态,将读片电压传送到取样保持电路,另内部基底部分接收控制电压。提升电压电路用以提高该栅极电压到大于该控制电压,使PMOS由导通状态切换到隔离状态,以阻隔该烧录电压。 | ||
申请公布号 | CN1588549A | 申请公布日期 | 2005.03.02 |
申请号 | CN200410063593.2 | 申请日期 | 2004.07.12 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 刘智民 |
分类号 | G11B21/00 | 主分类号 | G11B21/00 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 文琦;陈肖梅 |
主权项 | 1.一种光学读取头取样介面系统,其特征在于,包含:一光学读取头,输出一读片电压与一烧录电压之一;一P型金氧半导体PMOS,具有一第一源/漏极接收该读片电压与该烧录电压之一,一栅极接收一栅极电压,用以使该PMOS的一第二源/漏极与该第一源/漏极为导通状态,一内部基底部分接收一控制电压;一提升电压电路,连接至该PMOS的栅极,用以提高该栅极电压到大于该控制电压,使该第一源/漏极与该第二源/漏极由导通状态切换到隔离状态,以阻隔该烧录电压;以及一取样保持电路,连接至该第二源/漏极,对该读片电压进行取样保持。 | ||
地址 | 台湾省台北县新店市中正路533号8楼 |