发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明揭示一种半导体装置,其包括:一形成于半导体基板上方之多孔薄膜,该多孔薄膜具有选自由一沟槽及一孔所组成之群的至少一埋式凹面;一形成于该埋式凹面之内部表面上的导电障壁层;一埋入于该埋式凹面内之导电部件,其中该导电障壁层插入于该多孔薄膜与该导电部件之间;及一形成于该多孔薄膜与该导电障壁层之间的混合层,且其含有该多孔薄膜之组份及该导电障壁层之组份。
申请公布号 TW200509185 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW093113227 申请日期 2004.05.11
申请人 东芝股份有限公司 发明人 依田孝;尾本诚一;金子尚史;江泽弘和
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本