发明名称 使用二相位转差侦测以粗调节一锁相回路合成器之系统及方法
摘要 一种用于粗调节一锁相回路(PLL)合成器(200)中至少一电压控制振荡器(VCO)(211)之系统,该锁相回路(PLL)合成器(200)包括一相位频率侦测器(PFD),其用于确定VCO频率与参考频率之间的相位差,且若VCO频率与参考频率为至少2π弧度异相则提供一误差讯号。随后使用一监测器(215)以跟踪由PFD所产生之误差讯号之数量。若在监测器电路达到某预定位准之状况下,则可粗调节VCO之固有频率(free running frequency)。在将PLL粗调节以使PLL之VCO能处于一操作范围而不管实现电路运行之运行因数方面,本发明提供了巨大优势。
申请公布号 TW200509537 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW093103504 申请日期 2004.02.13
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 大卫B 哈尼许菲格;丹尼尔E 布鲁斯柯;佛莱德烈L 马汀
分类号 H03L7/085 主分类号 H03L7/085
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国