发明名称 半导体模造锭片之制法,自该制法所得之半导体模造锭片及利用其所得之半导体装置
摘要 一种半导体模造锭片之制法,该制法因锭片密度的增高,故可减少封装体空隙的形成。该制法包含下列步骤:一混练步骤,混练环氧树脂组成物,该组成物包含(A)环氧树脂、(B)酚系树脂、及(C)无机填充剂等成分作为主要成分;一滚轧模造步骤,将所得混练后之组成物滚轧模造成为具有片材密度比为98%或以上之片材形状;一粉化步骤,粉化所得片材形状压密体;以及一成形步骤,将粉化后之材料成形为具有锭片密度比为94%或以上而小于98%之锭片形状。
申请公布号 TW200508272 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW093121334 申请日期 2004.07.16
申请人 日东电工股份有限公司 发明人 大野博文;山根实;伊奈康信;梅野正一
分类号 C08G59/00 主分类号 C08G59/00
代理机构 代理人 赖经臣;宿希成
主权项
地址 日本
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