发明名称 平台栅格阵列的倒装晶片封装组合之合成盖
摘要 本发明提供一种半导体封装的合成盖,其中该盖部包含至少两种材料。第一材料系利用低模数的热胶排列且黏着于该晶粒的背面,而第二材料则系面向该盖部的周围排列。第二材料的弹性模数大于第一材料的弹性模数,而且较佳的,至少为第一材料之弹性模数的两倍。
申请公布号 TW200509321 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW093121771 申请日期 2004.07.21
申请人 德州仪器公司 发明人 屈子正
分类号 H01L23/10;H01L23/04 主分类号 H01L23/10
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国
您可能感兴趣的专利