发明名称 用以计算光学记录媒体之性能资料的装置及方法
摘要 一种性能资料计算装置及方法,用以连续地自光学记录媒体上之记录区域内之由数个轨构成之预定狭窄区域内之数个轨中指定至少一轨;重复地读取该指定轨;根据该读取信号测量预定参数以获得暂时测量值;以及决定该预定参数之测量值以于获得供该等数个轨中之每一者用之该预定参数之该暂时测量值时,依据该等暂时测量值计算性能资料。
申请公布号 TWI228708 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW092103533 申请日期 2003.02.20
申请人 先锋股份有限公司 发明人 加藤正浩;米龙大;梁川直治;村松优子
分类号 G11B27/34;G11B20/00 主分类号 G11B27/34
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种性能资料计算装置,该性能资料计算装置系 用以测量供由一光学记录媒体之一记录区域内之 数轨所构成之一预定狭窄区域用之至少一预定参 数,并用以依据该预定参数之该测量値计算指示该 光学记录媒体之该性能的性能资料,该性能资料计 算装置包含: 用以依序指定该预定狭窄区域内之数轨中之至少 一轨的轨指定装置; 用以重复地读取藉由该指定装置所指定之该一轨 之读取装置; 用以根据自该读取装置输出之一读取信号测量该 预定参数以获得一暂时测量値之测量装置;以及 决定装置,该决定装置系用以于供该等数轨中之每 一者用之该预定参数的该暂时测量値被获得时,决 定该预定参数之一测量値以依据所获得之该等暂 时测量値计算该性能资料。 2.如申请专利范围第1项所述之性能资料计算装置, 其中,该光学记录媒体具有一包括一未读取部份以 及可读取部份之凸起区域,且该预定狭窄区域系该 未读取部份。 3.如申请专利范围第1项所述之性能资料计算装置, 其中,用以携载有关一轨之资讯之一同步化预制凹 坑以及一资讯预制凹坑系重复地形成于该光学记 录媒体上之该等轨间; 其中,该读取装置包括光检测装置,该光检测装置 具有一于该轨之一切线方向被分割为第一以及第 二光感测表面之光感测表面,该光检测装置系用于 藉由该等第一以及第二光感测表面接收照射于该 记录表面之一雷射光束之反射光,且系用于各别地 产生对应于该等第一以及第二光感测表面之光感 测量之第一以及第二光检测信号; 其中,该测量装置包括用以计算自该光检测装置产 生之该等第一以及第二光检测信号间之差以产生 一推拉信号的减法装置; 用以撷取对应于该资讯预制凹坑之一已存在位置 之推拉信号之一信号成份的撷取装置;以及 检测装置,该检测装置系用以检测一轨成份部份之 一最大値、藉由该撷取装置所撷取之作为供藉由 该指定装置所指定之每一轨用之该预定参数的该 暂时测量値的该信号成份之一资讯预制凹坑成份 部份之一最大最値以及一最小値;以及 其中,该决定装置决定该轨成份部份之该等各别最 大値之一最大値WOmax、该资讯预制凹坑成份部份 之该等各别最大値之一最大値LPmax、以及藉由该 检测装置所检测之作为该预定参数之该测量値之 该资讯预制凹坑成份部份之该等各别最小値的一 最小値LPmin。 4.如申请专利范围第3项所述之性能资料计算装置, 其包含藉由使用该最大値WOmax、该最大値LPmax、以 及该最小値LPmin计算(LPmin-WOmax)/(LPmax-WOmax)而计算 作为该性能资料之一AR値之计算装置。 5.如申请专利范围第1项所述之性能资料计算装置, 其中,该等轨系摇摆地形成于该光学记录媒体上; 其中,该测量装置包括检测装置,该检测装置系用 以检测由该读取信号所获得之作为供藉由该指定 装置所指定之每一轨用的该预定参数的该暂时测 量値之一摇摆信号的一载波位准与一杂讯位准之 一最大値以及一最小値;以及 其中,该决定装置决定该载波位准之该等各别最大 値之一最大値Cmax、该载波位准之该等各别最小値 之一最小値Cmin、以及藉由该检测装置所检测之该 各别杂讯位准之一平均値N,以作为该预定参数之 该测量値。 6.如申请专利范围第5项所述之性能资料计算装置, 其包含计算装置,该计算装置系用以藉由使用该最 大値Cmax以及该最小値Cmin,以(Cmax+Cmin)/2计算该载波 位准之一平均値C,且用以藉由使用该平均値C以及 该杂讯位准之该平均値N计算C/N以计算作为该性能 资料之一CN比。 7.一种性能资料计算方法,该方法系用以测量供由 一光学记录媒体之一记录区域内之数轨所构成之 一预定狭窄区域用之至少一预定参数,并用以依据 该预定参数之该测量値计算指示该光学记录媒体 之该性能的性能资料,该性能资料计算方法包含下 列步骤: 依次指定该预定狭窄区域内之数个轨中之至少一 轨; 重复地读取被指定输出一读取信号之该一轨; 根据该读取信号测量该预定参数以获得一暂时测 量値;以及 于获得供该等数轨中之每一者用之该预定参数的 该暂时测量値时,决定该预定参数之一测量値以依 据所获得之该等暂时测量値计算该性能资料。 图式简单说明: 第1图系显示DVD-RW之区域布局结构之图; 第2图系显示DVD-RW之记录表面结构之图; 第3图系显示包括LPP成份之径向推拉信号之波形之 图; 第4图系显示预制凹坑检测信号之波形之图; 第5图系显示预制凹坑波形之图; 第6图系根据本发明之一实施例之用以测量预制凹 坑波形之装置之方块图; 第7图系显示第6图之包括头放大器、预制凹坑检 测电路、以及LPP间隔检测电路之装置的一组态之 方块图; 第8图系显示第6图所示之装置之示波器的概略组 态之方块图; 第9A至9C图系显示LPP间隔检测电路中数个部份之波 形之图; 第10图系显示第7图所示之藉由个人电脑所执行之 区域决定操作之流程图; 第11图系显示第7图所示之藉由个人电脑所执行之 用以产生触发信号之操作之流程图; 第12A至12D图显示第7图之装置内之数个部份于轨跳 时之波形; 第13A及13B图各自显示于示波器之预制凹坑波形之 释例; 第14图系第7图所示之装置内之藉由个人电脑所执 行之AR値计算操作之流程图; 第15A至15C图显示藉由频谱分析器所显示之载波位 准及杂讯位准; 第16A及16B图显示同相及反相相邻轨之摇摆关系; 第17图系第7图所示之装置内之藉由个人电脑所执 行的CN比计算操作之流程图;以及 第18图系第7图所示之装置内之藉由个人电脑所执 行之CN比计算操作之另一释例之流程图。
地址 日本
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