发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Abkühlkurve von Schmelzenproben und/oder der Aufheizkurve von Schmelzenproben sowie deren Verwendung |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Abkühlkurve von Schmelzen und/oder der Aufheizkurve von Schmelzenproben mit einer optischen Faser, wobei ein mindestens teilweise eine freie Oberfläche aufweisendes Eintauchende der optischen Faser von einem temperaturbeständigen Probenaufnahmeraum beabstandet umgeben wird, dass die optische Faser mit ihrem Eintauchende in die Schmelze eingetaucht und dabei in dem Probenaufnahmeraum eine Probe gebildet wird, wobei danach der Probenaufnahmeraum mit der Probe und der optischen Faser aus der Metallschmelze herausgezogen und die Abkühlkurve der Probe und/oder, nach vorhergehender Erstarrung der Probe, der Temperaturverlauf beim Aufheizen anhand eines von der optischen Faser aufgenommenen und an ein Messgerät weitergeleiteten Signals gemessen wird. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine entsprechende Vorrichtung sowie deren Verwendung.
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申请公布号 |
DE10331124(B3) |
申请公布日期 |
2005.02.17 |
申请号 |
DE2003131124 |
申请日期 |
2003.07.09 |
申请人 |
HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V., HOUTHALEN |
发明人 |
PLESSERS, JACQUES;VERSTREKEN, PAUL CLEMENT;DAMS, FRANCIS |
分类号 |
G01J5/04;G01J5/08;G01K13/12;(IPC1-7):G01J5/02;G01N1/10;G01N33/20;G01N25/02;G01M11/02;G01N25/20 |
主分类号 |
G01J5/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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