发明名称 Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
摘要 Ein Rastermikroskop mit einem Detektor zur Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem im Lichtweg des Detektionslichtes angeordneten Bandpassfilter, der eine Kombination aus einem Kurzpass- und mindestens einem Langpassfilter beinhaltet, ist dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor ein Non-Descan-Detektor ist.
申请公布号 DE102004029733(A1) 申请公布日期 2005.02.17
申请号 DE200410029733 申请日期 2004.06.21
申请人 LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH 发明人 ULRICH, HEINRICH;KNEBEL, WERNER
分类号 G02B21/00;(IPC1-7):G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
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