发明名称 |
Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie |
摘要 |
Ein Rastermikroskop mit einem Detektor zur Detektion des von einer Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem im Lichtweg des Detektionslichtes angeordneten Bandpassfilter, der eine Kombination aus einem Kurzpass- und mindestens einem Langpassfilter beinhaltet, ist dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor ein Non-Descan-Detektor ist.
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申请公布号 |
DE102004029733(A1) |
申请公布日期 |
2005.02.17 |
申请号 |
DE200410029733 |
申请日期 |
2004.06.21 |
申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH |
发明人 |
ULRICH, HEINRICH;KNEBEL, WERNER |
分类号 |
G02B21/00;(IPC1-7):G02B21/00 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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