发明名称 半导体元件的制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,此方法系在基底上形成闸极结构之后,在闸极结构的侧壁形成一内间隙壁,再于内间隙壁的侧壁形成外间隙壁。接着,以外间隙壁与闸极结构为罩幕,进行离子植入制程,以在基底中形成浓掺杂源极/汲极区。之后,将外间隙壁去除,再以内间隙壁以及闸极结构为罩幕,进行离子植入制程,以在基底中形成淡掺杂源极/汲极区。
申请公布号 TW200507078 申请公布日期 2005.02.16
申请号 TW092122060 申请日期 2003.08.12
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 萧智元;王雅志;黄则尧;陈逸男
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路六六九号