发明名称 | 半导体元件的制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体元件的制造方法,此方法系在基底上形成闸极结构之后,在闸极结构的侧壁形成一内间隙壁,再于内间隙壁的侧壁形成外间隙壁。接着,以外间隙壁与闸极结构为罩幕,进行离子植入制程,以在基底中形成浓掺杂源极/汲极区。之后,将外间隙壁去除,再以内间隙壁以及闸极结构为罩幕,进行离子植入制程,以在基底中形成淡掺杂源极/汲极区。 | ||
申请公布号 | TW200507078 | 申请公布日期 | 2005.02.16 |
申请号 | TW092122060 | 申请日期 | 2003.08.12 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 萧智元;王雅志;黄则尧;陈逸男 |
分类号 | H01L21/28 | 主分类号 | H01L21/28 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路六六九号 |