发明名称 焦点监视用光罩之制造方法及半导体装置之制造方法
摘要 本发明系提供一种可使用荷电射束,以短时间形成高精度之监视标志的焦点监视用光罩之制造方法。本发明包含于透光性基板1之表面区域形成第1开口部以及具有与第1开口部相对应之图案形状,且由透光性基板上之半色调膜2与半色调膜上之遮光膜3的叠层膜所包围的第2开口部21之步骤;及将荷电射束52照射于包含第2开口部之边缘部分、第2开口部之内侧部分及第2开口部之外侧部分的第1区域,将第2开口部内侧之透光性基板蚀刻的步骤。
申请公布号 TW200507016 申请公布日期 2005.02.16
申请号 TW093110989 申请日期 2004.04.20
申请人 东芝股份有限公司 发明人 金光真吾;平野隆;出羽恭子;井上壮一;伊藤信一
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本