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经营范围
发明名称
使用高温对流加热之半导体基板表面制备
摘要
一种处理半导体晶圆之方法包括利用加热之气体以对流加热半导体晶圆之一部分,以自该处吸解至少一污染物。在无加热气体之下,使一冷却气体流通过半导体晶圆之一部分,以冷却半导体晶圆之一部分。一度量衡工具用以测量半导体晶圆之一部分以决定其至少一特性。
申请公布号
TW200507015
申请公布日期
2005.02.16
申请号
TW093110758
申请日期
2004.04.16
申请人
固态量测股份有限公司
发明人
麦克亚当斯;詹姆斯希利二世;威廉郝兰德二世
分类号
H01L21/00
主分类号
H01L21/00
代理机构
代理人
蔡清福
主权项
地址
美国
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