发明名称 测试装置以及测试方法
摘要 一种测试装置10是具备有数个测试模组150a~g、数个分站控制装置130以及连接设定装置140。其中数个控制模组150a~g系与数个受测元件100的任何一个连接,并供给测试信号给受测元件100。分站控制装置130控制数个测试模组150a~g,且分别并行测试数个受测元件100。连接设定装置140系以数个分站控制装置130分别连接于各个受测元件100的方式,设定数个分站控制装置130与数个测试模组150a~g的连接形式。
申请公布号 TW200506397 申请公布日期 2005.02.16
申请号 TW093108468 申请日期 2004.03.29
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 市吉清司
分类号 G01R31/28;G06F11/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本
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