发明名称 | 微机械结构之检测方法及微检测结构 | ||
摘要 | 一种微机械结构之检测方法及微检测结构,适用于取得一微机械结构所使用之一薄膜层的机械性质,此检测方法包括先形成一微检测结构于微机械结构之一基材上,且此微检测结构之一欲检测部分系由上述之薄膜层所构成,接着振动此欲检测部分,并测量出欲检测部分之共振频率,接着经由欲检测部分之几何尺寸、密度及共振频率,而推导出欲检测部分之机械性质,以取得薄膜层之机械性质。此外,微检测结构之型态包括微悬臂梁及无边界梁。 | ||
申请公布号 | TW200506362 | 申请公布日期 | 2005.02.16 |
申请号 | TW092122058 | 申请日期 | 2003.08.12 |
申请人 | 台达电子工业股份有限公司 | 发明人 | 蔡欣昌;方维伦 |
分类号 | G01N3/00;G01N3/32 | 主分类号 | G01N3/00 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山工业区兴邦路三十一之一号 |