发明名称 微机械结构之检测方法及微检测结构
摘要 一种微机械结构之检测方法及微检测结构,适用于取得一微机械结构所使用之一薄膜层的机械性质,此检测方法包括先形成一微检测结构于微机械结构之一基材上,且此微检测结构之一欲检测部分系由上述之薄膜层所构成,接着振动此欲检测部分,并测量出欲检测部分之共振频率,接着经由欲检测部分之几何尺寸、密度及共振频率,而推导出欲检测部分之机械性质,以取得薄膜层之机械性质。此外,微检测结构之型态包括微悬臂梁及无边界梁。
申请公布号 TW200506362 申请公布日期 2005.02.16
申请号 TW092122058 申请日期 2003.08.12
申请人 台达电子工业股份有限公司 发明人 蔡欣昌;方维伦
分类号 G01N3/00;G01N3/32 主分类号 G01N3/00
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 桃园县龟山工业区兴邦路三十一之一号