测试装置

摘要

一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号之图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号之逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号之不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效资料值，作为1组资料依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效资料值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效资料值进行储存之第2储存部。