基板之检查方法

摘要

本发明系于基板上形成于第1阵列区域形成之至少一部分之配线与第2阵列区域形成之至少一部分之配线双方短路之共通端子。由共通端子供给第1阵列区域及第2阵列区域双方电气信号。对像素电极照射电子束，根据由像素电极放出之二次电子之资讯进行关于像素电极之检查。