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发明名称
用于处理半导体加工元件之方法及由此形成的元件
摘要
揭示多种半导体加工元件及其形成方法。在一具体态样中,半导体加工元件是由SiC所形成,并且元件之外表面部分的表面杂质程度是不大于主体杂质程度的十倍。在另一具体态样中,处理半导体加工元件的方法包括将元件暴露于高温下的卤素气体、氧化该元件以形成氧化层、移除氧化层。
申请公布号
TW200507113
申请公布日期
2005.02.16
申请号
TW093110328
申请日期
2004.04.14
申请人
圣-哥扁陶瓷&塑胶公司
发明人
安德鲁G 海尔;理查F 巴克雷;理查R 汉格斯特;耶许宛士 纳伦德
分类号
H01L21/322;C04B35/52
主分类号
H01L21/322
代理机构
代理人
林镒珠
主权项
地址
美国
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