| 发明名称 |
Memory testing apparatus and method |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2366890(B) |
申请公布日期 |
2005.02.16 |
| 申请号 |
GB20010010394 |
申请日期 |
2001.04.27 |
| 申请人 |
* NEC CORPORATION;* NEC CORPORATION;* NEC ELECTRONICS CORPORATION;* ELPIDA MEMORY, INC. |
发明人 |
YOSUKE * KAWAMATA |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F12/16;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
