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发明名称 DEVICE FOR MEASURING AND QUANTITATIVE PROFILING OF CHARGED PARTICLE BEAMS
摘要
申请公布号 AU2003274679(A1) 申请公布日期 2005.02.15
申请号 AU20030274679 申请日期 2003.08.01
申请人 SECRETARY, DEPARTMENT OF ATOMIC ENERGY 发明人 SHRIPAD, RAJARAM HALBE;VINOD, CHANDRA SAHNI
分类号 H01J49/04;(IPC1-7):H01J49/04 主分类号 H01J49/04
代理机构 代理人
主权项
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