发明名称 Verfahren zum Bilden einer Bauelement-Grabenisolation in einem Siliziumsubstrat
摘要
申请公布号 DE4426604(B4) 申请公布日期 2005.02.10
申请号 DE19944426604 申请日期 1994.07.27
申请人 LG SEMICON CO. LTD., CHEONGJU 发明人 LIM, JUN-HEE;HUH, YOON-JONG
分类号 H01L21/76;H01L21/308;H01L21/311;H01L21/762;H01L21/763;(IPC1-7):H01L21/762 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人
主权项
地址