METHOD FOR MEASURING PHYSICAL PARAMETERS OF AT LEAST ONE MICROMETRIC OR NANOMETRIC DIMENSIONAL PHASE IN A COMPOSITE SYSTEM

摘要

L'invention porte sur un procédé pour la détermination d'au moins un paramèt re mécanique d'au moins un matériau dans un système composite comprenant au moi ns deux phases distinctes, caractérisé en ce qu'il comporte : a la réalisation d'au moins un échantillon comportant une première partie d'une première phas e et une deuxième partie d'une deuxième phase, la deuxième partie étant constituée du matériau à caractériser, l'échantillon ayant au moins une dimension suffisamment faible pour permettre un relâchement des contraintes dans ledit échantillon ; b.la mesure, sur ledit échantillon d'au moins un paramètre de déformation d'au moins ladite première phase, en correspondance d'une pluralité de points situés à des distances différentes d'une interface entre lesdites première et deuxième phase ; et c.la détermination, à partir au moins dudit paramètre de déformation, d'au moins un paramètre mécanique de ladite deuxième phase.