| 发明名称 | 制备微阵列和检验它的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种制备微阵列同时检测所制备的微阵列质量的方法。该方法包括：(a)提供众多的试剂；(b)以预先确定的排列方式将众多试剂装载到微配送器上；(c)通过所述微配送器将试剂分配到测试阵列上，检验所述测试阵列上的试剂；(d)将所述试剂分配到众多微阵列上；和(e)通过图像记录装置拍摄图像来检查微阵列上的试剂斑点。 | ||
| 申请公布号 | CN1573330A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
| 申请号 | CN200310123066.1 | 申请日期 | 2003.12.24 |
| 申请人 | 华联生物科技股份有限公司 | 发明人 | 邱创汎;廖文晔 |
| 分类号 | G01N33/50 | 主分类号 | G01N33/50 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 程金山 |
| 主权项 | 1.一种为微阵列制备过程提供全面质量保证的方法，其包含以下步骤：a.提供众多的试剂；b.以预先确定的排列方式将所述试剂装载到微配送器上；c.将所述试剂分配到测试阵列上，其中所述测试阵列上的所述试剂的分配模式与所述微配送器中所述试剂的所述预先确定的排列相对应；d.检验所述测试阵列上的所述试剂，然后检验所述测试阵列上的所述试剂的同一性是否与装载到所述微配送器中的所述试剂的同一性相匹配；e.将所述试剂分配到众多的微阵列上；f.用图像记录装置记录所述微阵列完整表面的图像，以检验分配到所述微阵列表面上的所述试剂的液滴；和g.将所述微阵列进行固定步骤，然后进行洗涤步骤以从所述微阵列表面去除未附着的试剂。 | ||
| 地址 | 台湾省台北市松山区 | ||