发明名称 | 测试插件 | ||
摘要 | 本发明涉及一种能够拆卸、组装构成测试插件的构件,同时,可以抑制电极间发生的导通不良现象,具有的高电接触稳定性、高可靠性。测定测量对象物的各项电气特性的测试插件的结构是:安装有:在其表面上装有与测量对象物的电极座接触的多个测头、而且在其与该测头相对的一侧上备有多个连接卡的间隔变换器,备有与测量仪器的电极座接触的多个第1连接电极的主衬底,在该主衬底与间隔变换器插入连接卡且备有与第1连接电极通电的多个通孔的副衬底;该副衬底与主衬底连接成一体。 | ||
申请公布号 | CN1573337A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
申请号 | CN200410048729.2 | 申请日期 | 2004.06.10 |
申请人 | 日本电子材料株式会社 | 发明人 | 佐藤勝彦;森亲臣;中岛雅成 |
分类号 | G01R1/02;G01R31/28 | 主分类号 | G01R1/02 |
代理机构 | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人 | 刘广新 |
主权项 | 1.一种具有如下特点的测试插件:在测定测量对象物的各项电气特性的测试插件上安装有:备有与测量仪器接触的第1连接电极的主衬底、备有与上述第1连接电极通电的多个通孔并与上述主衬底连接的副衬底、以及在一个主面上设有能插入上述通孔、可以装卸的连接卡并在另一主面上设有与上述连接卡通电且与测量对象物接触的多个测头的间隔变换器。 | ||
地址 | 日本兵库县 |