| 发明名称 | 超精细过采样方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明的数字采样器工作于一个普通的被测试信号(SUT)，以超过保证相邻采样器的单调采样和非重叠建立和保持窗口的采样率对SUT进行采样。对样值流随后的处理恢复单调性和样值独立性以便提供非常高效率的采样速度。 | ||
| 申请公布号 | CN1573346A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
| 申请号 | CN200410071481.1 | 申请日期 | 2004.05.09 |
| 申请人 | 特克特朗尼克公司 | 发明人 | M·S·哈根;K·C·斯皮萨克 |
| 分类号 | G01R31/3177;G06F11/25 | 主分类号 | G01R31/3177 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王勇 |
| 主权项 | 1、一种装置，它包括：多个带有时间上交错和重叠的建立和保持窗口的采样器，用于采样一个普通的被测试信号(SUT)来产生多个相应的时间上交错的样值流；和多个数字过滤器，用于以一种有助于恢复样值流单调性和样值独立性的方式过滤所述时间上交错的样值流。 | ||
| 地址 | 美国俄勒冈州 | ||