发明名称 | 集成电路中降低存储器失效之方法 | ||
摘要 | 存储器可靠性由使用冗余修复可由ECC侦测的错误而被改良。在一具体实施例中,冗余修复无法由ECC修正的错误。冗余可利用电子熔丝的使用,在包含该存储器的IC被封装后激活修复。冗余亦可在该IC的封装前被执行。 | ||
申请公布号 | CN1574101A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
申请号 | CN200410049034.6 | 申请日期 | 2004.06.11 |
申请人 | 因芬尼昂技术股份公司 | 发明人 | M·雅各布;J·沃尔法尔特;T·罗尔 |
分类号 | G11C29/00;G11C11/22 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正;张志醒 |
主权项 | 1.一种降低存储器失效的方法,其包括:取得来自对应于存储器地址的存储器的信息之数据字;使用错误修正码决定该数据字是否包含任何错误;及使用存储器冗余修复至少对应于在数据字的错误之存储器单元。 | ||
地址 | 联邦德国慕尼黑 |