发明名称 光电二极体阵列及其制造方法,及放射线检测器
摘要 光电二极体阵列1系具备n型矽基板3。在n型矽基板3之被检测光L之入射面的相反面侧,复数个光电二极体4系形成阵列状。在n型矽基板3之被检测光L的入射面侧之未与形成有光电二极体4的区域对应之区域上,设置具有规定的高度之空间层6。
申请公布号 TW200505040 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW093108053 申请日期 2004.03.25
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 柴山胜己
分类号 H01L31/09 主分类号 H01L31/09
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本