发明名称 半导体积体电路装置
摘要 以往之半导体积体电路装置,由于作为防止逆流电流发生之方法的导通(启动)电阻大,无法减小通常动作时之电压损失。于是,有关本发明之半导体积体电路装置乃作成具备第1MOS电晶体、设于前述第1MOS电晶体与电源端子间之第2MOS电晶体、以及通常动作时之第2MOS电晶体之闸极为预定电位(理想为接地电位),并在可能发生逆流电流之状况时使第2MOS电晶体不导通之构成,从而谋求逆流电流之发生的防止以及通常动作时之电压损失的减低。
申请公布号 TW200504919 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW093108470 申请日期 2004.03.29
申请人 罗沐股份有限公司 发明人 近藤雅仁;井上晃一
分类号 H01L21/70 主分类号 H01L21/70
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本