发明名称 晶片结构
摘要 一种晶片结构,用以改善知电流由传输线流向焊垫时,因保护层之圆形开口容易造成电流拥挤的现象,进而导致电致迁移。因此,在保护层开口之改良结构上系利用略呈一圆弧轮廓之开口,而开口靠近于传输线之轮廓系为一直线或一弧线,以使电流通过此开口时其密度均匀分布在直线或弧线上,进而改善电流拥挤的现象。
申请公布号 TWI227556 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW092119227 申请日期 2003.07.15
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄敏龙
分类号 H01L23/48 主分类号 H01L23/48
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种晶片结构,至少包括:一晶片,具有至少一焊垫以及连接该焊垫之一传输线,位于该晶片之表面上;以及一保护层,覆盖于该晶片之表面上,该保护层具有一开口,暴露出该焊垫,其中该开口之轮廓系由一直线以及连接该直线之两端的一圆弧所构成,且该直线靠近于该传输线连接至该焊垫之一端。2.如申请专利范围第1项所述之晶片结构,其中该直线之长度小于等于该圆弧之半径。3.如申请专利范围第1项所述之晶片结构,其中该直线之长度系介于该圆弧之半径与直径之间。4.如申请专利范围第1项所述之晶片结构,其中保护层系为一有机保护层。5.如申请专利范围第1项所述之晶片结构,其中保护层系为一无机保护层。6.一种晶片结构,至少包括:一晶片,具有至少一焊垫以及连接该焊垫之一传输线,而该焊垫与该传输线系位于该晶片之表面:以及一保护层,覆盖于该晶片之表面,该保护层具有一开口,其暴露出该焊垫,而该开口之轮廓系由一弧线以及连接该弧线之两端的一圆弧所构成,其中该弧线凹陷于该圆弧之中,且该弧线靠近于该传输线连接至该焊垫之一端。7.如申请专利范围第6项所述之晶片结构,其中该弧线上任一点与该传输线连接至该焊垫之该端的距离系等距分布。8.如申请专利范围第6项所述之晶片结构,其中该弧线之曲率小于等于该圆弧的曲率。9.如申请专利范围第6项所述之晶片结构,其中该弧线之曲率大于等于该圆弧的曲率。10.如申请专利范围第6项所述之晶片结构,其中保护层系为一有机保护层。11.如申请专利范围第6项所述之晶片结构,其中保护层系为一无机保护层。图式简单说明:第1图绘示习知一种保护层之开口结构的俯视示意图。第2图绘示本发明一较佳实施例之一种保护层开口之改良结构的俯视示意图。第3图绘示本发明一较佳实施例之另一种保护层开口之改良结构的俯视示意图。
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号