发明名称 半导体工厂自动化系统及用以即时监看至少一伺服器之方法
摘要 一种方法,用以在半导体工厂自动化(FA)系统中监看至少一伺服器,包含步骤有:a)从至少一伺服器提供伺服器状态资讯到一个即时资料库,其中伺服器状态资讯包含一处理单元之可用性,一磁碟可用性与相关于伺服器之程式处理状态;b)储存处理器状态资讯于即时资料库中; c)检索伺服器状态资讯以监看伺服器;以及d)显示检索出之伺服器状态资讯。因此,本方法及时监看至少一伺服器,使得作业人员可以轻易地查出至少一伺服器故障。
申请公布号 TWI227397 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW089112389 申请日期 2000.06.23
申请人 现代电子产业股份有限公司 发明人 金永珍
分类号 G06F11/30;G05B15/02;H01L21/28 主分类号 G06F11/30
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种半导体工厂自动化(FA)系统,包含: 至少一处理器,用以驱动一程式处理与提供处理器 状态资讯,其中处理器状态资讯包含一中央处理单 元的可用性,一磁碟可用性与相关于该处理器之程 式处理状态; 一储存装置,用以即时储存处理器状态资讯; 一监看装置,用以检索该储存装置中之处理器状态 资讯以监看该处理器;以及 一显示装置,用以显示所检索之处理器状态资讯。 2.如申请专利范围第1项之半导体FA系统,其中该显 示装置包含: 一第一显示栏,用以显示相关于该处理器之中央处 理单元的可用性;以及 一第二显示栏,用以显示相关于该处理器之磁碟的 可用性。 3.如申请专利范围第2项之半导体FA系统,其中该显 示装置更进一步包含: 一第一发光装置,用以当磁碟故障时发射一光线; 一第二发光装置,用以当程式处理位于停机状态时 发射该光线;以及 一第三发光装置,用以当介于该监看装置与该处理 器间之通讯未连接时发射该光线。 4.如申请专利范围第3项之半导体FA系统,其中该显 示装置更进一步包含: 一第三显示栏,用以显示程式处理处于停机状态时 之辨识资讯。 5.如申请专利范围第4项之半导体FA系统,其中该处 理器耦合到由Xerox公司供应之EthernetTM。 6.如申请专利范围第5项之半导体FA系统,其中该至 少一处理器包含一第一处理器以及一第二处理器 。 7.如申请专利范围第6项之半导体FA系统,更进一步 包含: 一半导体处理装置,耦合到该第一处理器用以处理 包含一预定数目半导体晶圆之半导体晶片匣; 一储存装置,耦合到该第二处理器用以储存该半导 体晶片匣;以及 一传送装置,用以自该半导体处理装置传送半导体 晶片匣到该储存装置,或自该储存装置到该半导体 处理装置。 8.一种方法,用以监看半导体工厂自动化(FA)系统中 至少一伺服器,包含步骤有: a)自至少一伺服器提供伺服器状态资讯到一个即 时资料库,其中伺服器状态资讯包含一中央处理单 元的可用性,一磁碟可用性与相关于该伺服器之程 式处理状态; b)储存伺服器状态资讯于即时资料库; c)检索伺服器状态资讯以监看伺服器;以及 d)显示所检索之伺服器状态资讯。 9.如申请专利范围第8项之方法,其中该步骤d)包含 步骤有: d1)显示相关于该伺服器之中央处理单元的可用性; 以及 d2)显示相关于该伺服器之磁碟的可用性。 10.如申请专利范围第9项之方法,其中该步骤d)更进 一步包含步骤有: d3)当磁碟故障时发射一光线;以及 d4)当程式处理位于停机状态时发射该光线。 11.如申请专利范围第10项之方法,其中该步骤d)更 进一步包含步骤有: d5)显示程式处理处于停机状态时之辨识资讯。 图式简单说明: 图1为一方块图,说明根据本发明所述之一种半导 体FA系统,用以即时监看至少一伺服器; 图2为一方块图,展列如图1所示传输控制部分; 图3为一范例图,列出如图1所示之萤幕; 图4为一范例图,描述列于图1与2伺服器之间的关系 ;以及 图5为一流程图,列出根据本发明所述之一种方法, 用以即时监看至少一伺服器。
地址 大韩民国