发明名称 |
System und Verfahren zum Scannen eines Objekts in Tomosynthese-Anwendungen |
摘要 |
Ein Tomosynthese-System (50) zum Scannen einer Region (54) in einem Objekt (18) weist eine Strahlungsquelle (12) auf, die konfiguriert ist, um in eine Vielzahl von Positionen (70) bewegt zu werden, um eine Vielzahl von Abtastrichtungen (72) zu erbringen. Jede der Vielzahl von Positionen entspricht einer jeweiligen Abtastrichtung. Darüber hinaus weist die Vielzahl von Abtastrichtungen wenigstens eine Abtastrichtung entlang einer ersten Achse (60) und eine Richtung entlang einer zweiten Achse (62) auf, wobei die zweite Achse quer zu der ersten Achse verläuft.
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申请公布号 |
DE102004029474(A1) |
申请公布日期 |
2005.01.27 |
申请号 |
DE20041029474 |
申请日期 |
2004.06.18 |
申请人 |
GENERAL ELECTRIC CO., SCHENECTADY |
发明人 |
EBERHARD, JEFFREY;AL-KHALIDY, ABDULRAHMAN |
分类号 |
A61B6/02;G01N23/04;G06T1/00;(IPC1-7):G01N23/06;A61B6/03 |
主分类号 |
A61B6/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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