发明名称 Verbesserte Ionenstrahlmessanlage für eine Ionenimplantationsvorrichtung
摘要 Ein Feld mit Öffnungen mit großem Aspektverhältnis ermöglicht eine schnelle und genaue Messung von Einfallswinkelabweichungen und/oder der Strahldivergenz. Das große Aspektverhältnis stellt sicher, dass nur Ionen mit einem vordefinierten kleinen Einfallswinkelbereich eine leitende Detektionsoberfläche erreichen können, wodurch eine wirksame Steuerung der Ionenstrahlparallelität ermöglicht wird, indem der Strahlstrom durch die Öffnungen mit dem großen Aspektverhältnis maximiert wird. Wenn ferner das Feld mit Öffnungen mit einzelnen Strahlstrommesspunkten versehen ist, können räumlich aufgelöste Intensitätsmessungen durchgeführt werden, die das Abschätzen der Strahlform ermöglichen. Somit kann eine bewegbare Faraday-Behälteranordnung durch das stationäre Feld mit Öffnungen mit großem Aspektverhältnis ersetzt werden, wodurch die Anlagenzuverlässigkeit verbessert wird.
申请公布号 DE10329388(A1) 申请公布日期 2005.01.27
申请号 DE20031029388 申请日期 2003.06.30
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 发明人 KRUEGER, CHRISTIAN
分类号 H01J37/244;(IPC1-7):H01J37/317;G01T1/29 主分类号 H01J37/244
代理机构 代理人
主权项
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