Verfahren und Vorrichtungen zum Bestimmen des Zustands eines Speicherelements

摘要

Es werden Verfahren und Vorrichtungen zum Messen von Werten einer Mehrzahl von Speicherelementen offenbart, wobei die gemessenen Werte den digitalen Zustand eines Speicherelements anzeigen können. Es können Berechnungen bei einer Mehrzahl von Übergangstermen durchgeführt werden, die den möglichen Übergängen in den Werten zwischen nahen Speicherelementen zugeordnet sind. Der digitale Zustand von Speicherelementen kann unter Verwendung der Berechnungen, die bei der Mehrzahl von Übergangstermen durchgeführt werden, bestimmt werden.