发明名称 基于工业软测量模型的离线化验值双重校正方法
摘要 本发明公开了一种基于工业软测量模型的离线化验值的双重校正方法。它利用过程指标的离线化验值,分别以可调的周期校正软测量模型参数和校正软测量计算输出值,使软测量模型预测输出具有良好的精度和趋势。本发明的优点:1)根据在线滚动模型校正和化验值偏差校正技术各自的特点进行有机结合,以充分发挥各自的优点;2)本发明中的化验室偏差校正充分利用了历史偏差信息,对当前的偏差进行加权处理,真实地反映了实际生产过程的连续性和平缓效果;3)本发明提出的在线模型校正很好地借鉴了预测控制技术中的思想,为在线模型校正方法提供了理论基础,也进一步保证了在线模型校正技术能在实际过程中得到成功应用。
申请公布号 CN1570627A 申请公布日期 2005.01.26
申请号 CN200410018393.5 申请日期 2004.05.12
申请人 浙江大学 发明人 苏宏业;牟盛静;王长明;古勇;褚健
分类号 G01N33/00;G06F19/00 主分类号 G01N33/00
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 张法高
主权项 1、一种对基于模型的工业过程软测量在线双重校正方法,其特征在于利用过程指标的离线化验值,以可调节的周期分别实施软测量模型参数的滚动校正和软测量计算输出值偏差校正的双重校正方法,使软测量模型预测输出具有良好的精度和趋势。
地址 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号