发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR SECURE SCAN TESTING
摘要
申请公布号 EP1499906(A1) 申请公布日期 2005.01.26
申请号 EP20030721656 申请日期 2003.04.14
申请人 FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. 发明人 TKACIK, THOMAS;SPITTAL, JOHN, E., JR.;LUTZ, JONATHAN;CASE, LAWRENCE;HARDY, DOUGLAS;REDMAN, MARK;SCHMIDT, GREGORY;TUGENBERG, STEVEN;FITZSIMMONS, MICHAEL, D.;CARDER, DARRELL, L.
分类号 G01R31/317;G01R31/3185;G06F21/00;(IPC1-7):G01R31/318;G06F1/00 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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