发明名称 |
使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法 |
摘要 |
一种在镀膜机的真空室内使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法,其基本原理是:薄膜的几何厚度与光学厚度成一定比例关系,采用单独的监控片进行膜厚控制,在镀膜过程中使用挡板,使基片的膜料被均匀遮挡掉一定比例,而控制片的膜料不被遮挡,以实现控制片上的膜厚与基片上的膜厚成一定比例,控制片上的膜厚与监控波长相符,基片上的膜厚由监控波长与挡板的形状所决定,为控制片上的膜厚的几分之一,从而达到用长波做监控波长控制短波长薄膜制备的目的。本发明是利用现有镀膜机的光控系统进行的,可实现紫外薄膜的精确监控,提高了设备的通用性。 |
申请公布号 |
CN1570201A |
申请公布日期 |
2005.01.26 |
申请号 |
CN200410018158.8 |
申请日期 |
2004.05.09 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
尚淑珍;易葵;张大伟;占美琼;廖春艳;邵建达;范正修 |
分类号 |
C23C14/56;G02B1/10 |
主分类号 |
C23C14/56 |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
1、一种在镀膜机的真空室内使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法,其特征在于基本原理是:采用单独的监控片进行膜厚控制,在镀膜过程中使用挡板,使基片的膜料被均匀遮挡掉一定比例,而控制片的膜料不被遮挡,以实现控制片上的膜厚与基片上的膜厚成一定比例,控制片上的膜厚与监控波长相符,基片上的膜厚由监控波长与挡板的形状所决定,为控制片上的膜厚的几分之一,从而达到用长波做监控波长控制短波长薄膜制备。 |
地址 |
201800上海市800-211邮政信箱 |