嵌入式内存测试平台装置及其测试方法

摘要

本发明涉及一种测试平台装置及其测试方法，应用于一具有一嵌入式内存的系统整合单芯片上，该装置包括有一受测集成电路插座，其供该系统整合单芯片插置其上，一参考集成电路插座，其供一独立设置的内存装置插置其上，以及一测试控制电路，电连接于该受测集成电路插座与该参考集成电路插座。该测试控制电路对该受测嵌入式内存与该独立设置的内存集成电路写入可互相比对的数据，再予读出，当所读出的数据发生不一致状况时，停止该写入与读出动作，并产生该嵌入式内存发生错误的相关数据报告给一个人计算机，以进行记录与分析。

主权项

1、一种嵌入式内存测试平台装置，用以对一系统整合单芯片上的一嵌入式内存进行测试，其特征在于，该装置包括有：一受测集成电路插座，供该系统整合单芯片插置其上；一参考集成电路插座，供一独立设置的内存装置插置其上；以及一测试控制电路，电连接于该受测集成电路插座与该参考集成电路插座，其对该系统整合单芯片中的嵌入式内存与该独立设置的内存集成电路进行相同的读写测试动作，并当所读出的数据发生不一致状况时，停止读写测试动作，并读取前多个周期的记录来产生该嵌入式内存发生错误的一相关数据报告。