| 发明名称 |
DIAGNOSIS OF FRAGILE PLAQUE BY ACTIVE TEMPERATURE-MEASUREMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2003304154(A1) |
申请公布日期 |
2005.01.21 |
| 申请号 |
AU20030304154 |
申请日期 |
2003.11.28 |
| 申请人 |
KEIO UNIVERSITY |
发明人 |
TSUNENORI ARAI;TAKESHI YANAGIHARA;SAYAKA OHMORI |
| 分类号 |
A61B5/00;A61B5/01;(IPC1-7):A61B5/00;A61B8/12 |
主分类号 |
A61B5/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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