发明名称 Kombination von abtastenden und abbildenden Methoden bei der Überprüfung von Photomasken
摘要
申请公布号 DE50104813(D1) 申请公布日期 2005.01.20
申请号 DE20015004813 申请日期 2001.08.01
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 ROTSCH, CHRISTIAN
分类号 G01N21/956;G03F1/00;G12B21/08;(IPC1-7):G03F1/00 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
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