发明名称 | 具有内置测试功能的处理器及其处理方法 | ||
摘要 | 一种具有内置测试的微处理器,其中包括:寄存器,用于保存测试程序的测试地址;下一个地址产生逻辑电路,用于根据要被接着执行的一个命令的命令地址,产生被安排在下一步执行的一个命令的命令地址;第一多路复用器,用于根据测试模式信号选择指定引导程序的引导地址和测试地址的任何一个地址;第二多路复用器,用于根据一个复位信号选择被安排在下一步执行的命令的命令地址和由第一多路复用器所选择的地址中的任何一个地址;以及程序计数器,用于保存由第二多路复用器所选择的地址,并且用于把所保存的地址输出到下一个地址产生逻辑电路,作为要被接着执行的命令的命令地址。 | ||
申请公布号 | CN1185574C | 申请公布日期 | 2005.01.19 |
申请号 | CN02159336.1 | 申请日期 | 2002.12.26 |
申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 畠山努 |
分类号 | G06F9/00 | 主分类号 | G06F9/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 朱海波 |
主权项 | 1.一种具有内置测试功能的微处理器,其中包括:寄存器,用于保存测试程序的测试地址;下一个地址产生逻辑电路,用于根据要被接着执行的一个命令的命令地址,产生被安排在下一步执行的一个命令的命令地址;第一多路复用器,用于根据测试模式信号选择指定引导程序的引导地址和测试地址中的任何一个地址;第二多路复用器,用于根据一个复位信号选择被安排在下一步执行的命令的命令地址和由第一多路复用器所选择的地址中的任何一个地址;以及程序计数器,用于保存由第二多路复用器所选择的地址,并且用于把所保存的地址输出到下一个地址产生逻辑电路,作为要被接着执行的命令的命令地址。 | ||
地址 | 日本东京都 |